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第一章 光学基本原理1

1—1 光的性质1

1—2 光波及其运动3

1—3 可见光、自然光与偏光7

1—4 光的折射和折射率9

1—5 临界角、全反射与光率计（折射仪）12

1—6 均质体与非均质体16

1—7 双（重）折射18

第二章 折射率面与光率体22

2—1 折射率面22

一、高级晶族（或非结晶质）的折射率面22

二、中级晶族（一轴晶）的折射率面22

三、低级晶族（二轴晶）的折射率面25

2—2 光率体29

一、高级晶族（均质体）的光率体29

二、中级晶族（一轴晶）的光率体29

三、低级晶族（二轴晶）的光率体34

2—3 光性方位42

一、中级晶族的光性方位42

二、低级晶族的光性方位42

第三章 偏光显微镜46

3—1 偏光显微镜的构造46

3—2 偏光显微镜的调节52

一、装卸镜头52

二、调节照明（对光）52

三、调节焦距（准焦）52

四、校正中心53

五、校正偏光镜54

3—2 偏光显微镜的保养及使用守则56

3—4 岩石薄片的制作56

第四章 单偏光系统下晶体的光学性质58

4—1 矿物的形态58

一、解理、解理等级及能见度60

4—2 解理及其夹角的测定60

二、解理夹角的测量63

4—3 薄片中矿物的颜色和多色性64

一、颜色和多色性的概念64

二、多色性和吸收性的观察和表征65

三、颜色和多色性的起因66

4—4 矿物的贝克线、边缘、色散、糙面，突起与闪突起68

一、贝克线与边缘68

二、贝克线色散效应73

三、矿物的糙面74

四、突起及其等级76

五、闪突起78

第五章 两个偏光系统下晶体的光学性质81

5—1 正交偏光系统下平面偏光的分解与叠加81

5—2 正交偏光系统下矿片的消光现象与消光位82

5—3 正交偏光系统下矿片的干涉现象83

一、光程差R84

二、矿片上椭圆切面长短半径与上下偏光振动方向之间的夹角与干涉作用的关系87

5—4 干涉色与干涉色级序87

一、单色光的干涉87

二、白光的干涉（干涉色的成因）88

三、干涉色级序与色序89

四、干涉色色谱表91

五、异常干涉色及色序93

六、光率体色散与消光异常96

5—5 平行偏光系统下的干涉现象96

5—6 程差的叠加和补偿98

5—7 补偿器及程差的测定100

一、固定补偿器101

二、可调补偿器101

5—8 非均质矿片上光率体轴名及方向的测定107

5—9 多色性公式及吸收公式的测定108

一、干涉色级序的测定109

5—10 干涉色级序与双折射率的测定109

二、双折射率的测定110

5—11 消光类型与消光角的测定111

一、消光类型111

二、消光角的测定113

三、消光角正负的确定115

5—1 2晶体延性符号的测定115

5—1 3双晶的观察117

第六章 锥光系统下晶体的光学性质121

6—1 锥光系统的装备121

6—2 一轴晶在锥光系统下的干涉现象124

一、一轴晶的伯尔丁面124

二、一轴晶的波向图125

三、一轴晶垂直光轴切面的干涉图125

四、一轴晶斜交光轴切面的干涉图130

五、一轴晶平行光轴切面的干涉图133

6—3 二轴晶在锥光系统下的干涉现象137

一、二轴晶的伯尔丁面137

二、二轴晶的波向图138

三、二轴晶垂直锐角等分线（Bxa）切面的干涉图140

四、二轴晶垂直一个光轴切面的干涉图144

五、二轴晶斜交切面的干涉图147

六、二轴晶垂直钝角等分线（Bxo）切面的干涉图150

七、二轴晶平行光轴面（垂直光学法线）切面的干涉图151

6—4 二轴晶光轴角2V的测定152

一、已知主折射率时、光轴角的计算153

二、岩石薄片中干涉图上光轴角2V的测定155

6—5 二轴晶干涉图上的光率体色散现象161

一、斜方晶系干涉图的色散162

二、单斜晶系干涉图的色散162

三、三斜晶系干涉图的色散166

6—6 光性异常166

一、旋转偏光的产生原因167

6—7 晶体的旋光性167

二、旋光性的左旋与右旋的识别169

第七章 油浸法172

7—1 概述172

7—2 浸油172

一、浸油的配制172

二、浸油折射率的测定173

7—3 普通油浸法油浸薄片的制备177

一、制作油浸薄片的必备物品177

二、油浸薄片的制备177

7—4 无色散效应时显微镜下矿物与浸油折射率的比较方法178

一、直照法178

二、斜照法179

7—5 有色散效应存在时比较矿物与浸油折射率的方法180

一、直照法181

7—6 物镜的选择、换油及精度184

一、物镜的选择184

二、斜照法184

二、换油185

三、精度问题186

7—7 折射率测定的一般方法186

一、均质体折射率的测定186

二、非均质体折射率的测定188

7—8 旋转针测定矿物折射率的方法190

一、旋转针的构造与安装190

三、折射率的测定方法191

二、矿物的粘附和换油191

7—9 干涉显微镜测定矿物折射率的方法193

一、贾明—列别捷夫偏光干涉装置的构成与光路系统193

二、干涉装置的基本原理194

三、干涉显微装置的调节步骤195

四、均质体折射率及厚度的测定方法195

五、非均质体折射率的测定方法197

7—10 半圆柱坐标系统鉴定透明矿物197

主要参考文献199