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第1章　IC系统设计概述1

1.1 IC系统组成概述1

1.2 IC系统设计概述6

1.2.1　系统级设计7

1.2.2　电路／逻辑设计9

1.2.3　物理设计11

1.3 IC系统验证分析概述13

1.3.1　仿真13

1.3.2　静态时序分析15

1.3.3　功耗分析15

1.3.4　形式验证16

1.3.5　物理验证（DRC/LVS）17

1.3.6　信号完整性分析18

1.3.7　基于FPGA的验证19

1.3.8　测试20

1.4 IC系统设计的现状21

第2章 系统设计——算法与架构22

2.1　算法设计23

2.1.1　算法设计基础23

2.1.2　数字信号处理（DSP）算法综述27

2.1.3 DSP算法的描述31

2.2 IC系统架构设计31

2.2.1 SOC架构33

2.2.2 AHB总线36

2.3　基于SystemC的IC系统设计40

2.3.1　基于SystemC的设计流程41

2.3.2 SystemC的数据类型43

2.3.3 SystemC建模基础44

2.3.4　利用SystemC进行系统建模的流程48

2.4　系统设计工具SPW简介54

第3章 数字IC系统的逻辑设计——RTL实现56

3.1 RTL设计基础56

3.1.1　同步电路设计要求56

3.1.2 RTL设计步骤58

3.1.3　复位策略60

3.1.4　状态机的设计62

3.1.5　多时钟域的处理67

3.1.6　时钟切换电路77

3.2 RTL设计指南（Verilog）78

3.2.1　命名规则78

3.2.2　设计风格79

第4章　数字IC系统逻辑设计基础90

4.1　数字IC系统基础：晶体管、反相器、寄存器90

4.1.1 MOS晶体管90

4.1.2　反相器92

4.1.3　寄存器96

4.2　标准单元98

4.2.1　标准单元的仿真模型基础98

4.2.2　标准单元的综合模型基础101

4.2.3　反相器的综合模型107

4.2.4　寄存器的综合库模型110

4.3　数据通路的designware实现120

4.3.1　加法器Dw01_add122

4.3.2　乘法器Sw02_mult126

第5章　IC设计中的综合技术131

5.1　逻辑综合131

5.1.1　综合策略131

5.1.2　DC中的重要变量及命令144

5.2　物理综合146

6.1　可测性设计综述149

第6章　可测性设计149

6.1.1　测试仪150

6.1.2　故障模型151

6.1.3　可测试设计方法概述153

6.1.4　自动测试向量生成154

6.2　基于扫描路径的可测性设计155

6.2.1　扫描链基本原理155

6.2.2　面向扫描测试的RTL设计159

6.2.3　扫描链的综合162

6.3　基于JTAG的可测性设计168

6.3.1　JTAG基础168

6.3.2　边界扫描的实现173

6.4　基于BIST的可测性设计175

6.5 自动测试向量的生成——ATPG176

7.1　静态时序分析原理180

第7章　静态时序分析180

7.2　静态时序分析中时钟的建模185

7.3　静态时序分析中的常见问题187

7.3.1　多周期路径的设置187

7.3.2　DFT模式189

7.3.3　时钟门控信号的时序分析191

第8章　形式验证193

8.1　等价性验证基础193

8.2 formality脚本195

8.3 verplex脚本196

9.1 IC系统中的功耗198

第9章　低功耗设计与功耗分析198

9.2　低功耗设计技术综述200

9.2.1　系统级的低功耗设计203

9.2.2 RTL级的低功耗设计207

9.2.3　逻辑级的功耗优化技术214

9.2.4　电路级的低功耗设计217

9.2.5　物理级的低功耗设计217

9.3　功耗分析217

9.3.1　基于Power Compiler的功耗分析技术219

9.3.2　基于PrimePower的功耗分析技术220

附录　版本管理软件CVS222

参考文献224