电子显微镜中的电子能量损失谱学 第2版【2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载】

电子显微镜中的电子能量损失谱学 第2版PDF格式电子书版下载

注意：本站所有压缩包均有解压码： 点击下载压缩包解压工具

第一章 电子能量损失谱学引论1

1.1快电子与固体的相互作用2

1.2电子能量损失谱5

1.3实验技术的进展7

1.3.1能量选择（能量过滤）电子显微镜10

1.3.2作为电子显微镜附件的谱仪11

1.4其他分析方法13

1.4.1离子束方法14

1.4.2入射光子15

1.4.3电子束技术16

1.5 EELS和EDX的比较19

1.5.1探测极限与空间分辨率20

1.5.2对样品的要求21

1.5.3定量化的精度21

1.5.4使用的便捷性和信息内容22

1.6进一步的阅读23

第二章 电子能量损失谱的仪器设备25

2.1能量分析和能量选择系统25

2.1.1磁棱镜谱仪26

2.1.2能量选择磁棱镜装置29

2.1.3 Wien过滤器32

2.1.4电子单色器34

2.2磁棱镜谱仪的光学系统37

2.2.1一阶性质38

2.2.2高阶聚焦44

2.2.3像差校正谱仪的设计45

2.2.4一些实际情况的考虑48

2.2.5谱仪合轴49

2.3谱仪前置透镜的使用54

2.3.1 CTEM透镜的配置54

2.3.2透镜像差对空间分辨率的影响55

2.3.3透镜像差对收集效率的影响57

2.3.4透镜对能量分辨率的影响59

2.3.5 STEM的光学系统60

2.4能量损失谱的串行记录62

2.4.1探测狭缝的设计63

2.4.2串行记录的电子探测器65

2.4.3串行采集的噪声特性68

2.4.4信号处理与存储70

2.4.5能量损失谱的扫描71

2.4.6重合计数73

2.5能量损失谱的并行记录74

2.5.1自扫描二极管阵列的操作75

2.5.2间接曝光系统76

2.5.3直接曝光系统80

2.5.4并行采集系统的噪声特性81

2.5.5二极管阵列假象的处理84

2.6能量选择成像（ESI）87

2.6.1镜筒后置能量过滤器88

2.6.2棱镜-镜面过滤器和Ω过滤器90

2.6.3 STEM模式下的能量过滤91

2.6.4谱-成像92

2.6.5元素分布图94

2.6.6能量过滤TE M和STEM的比较95

2.6.7 Z比例成像97

第三章 电子散射理论101

3.1弹性散射101

3.1.1一般表述102

3.1.2原子模型102

3.1.3衍射效应106

3.1.4电子通道效应107

3.1.5声子散射109

3.2非弹性散射110

3.2.1原子模型111

3.2.2 Bethe理论113

3.2.3介电性的表述116

3.2.4固态效应117

3.3外壳层电子的激发120

3.3.1体等离子体120

3.3.2单电子激发129

3.3.3激子133

3.3.4辐射损失135

3.3.5表面等离子体137

3.3.6表面反射谱142

3.3.7小粒子的表面模式145

3.4单次散射、复散射和多次散射146

3.4.1泊松定律146

3.4.2非弹性复散射的角分布148

3.4.3弹性散射的影响150

3.4.4多重散射152

3.4.5相干的双重等离子体激发152

3.5内壳层损失边的背底153

3.5.1价电子散射153

3.5.2芯损失边的拖尾154

3.5.3轫致辐射能量损失155

3.5.4复散射155

3.6内壳层激发的原子理论158

3.6.1广义振子强度158

3.6.2散射运动学163

3.6.3电离散射截面166

3.7内壳层损失边的形状170

3.7.1损失边的基本形状170

3.7.2偶极选择定则175

3.7.3复散射的影响176

3.7.4阈值能量的化学位移177

3.8近边精细结构（ELNES）178

3.8.1态密度解释179

3.8.2偶极近似的有效性180

3.8.3分子轨道理论183

3.8.4多重散射（XANES）理论184

3.8.5芯激子185

3.8.6多重态与晶体场分裂186

3.9广延能量损失精细结构（EXELFS）187

第四章 能量损失谱的定量分析193

4.1去除低能损失区的复散射194

4.1.1 Fourier-log解卷积194

4.1.2 Misell-Jones法和矩阵法201

4.1.3角度受限谱的解卷积202

4.2 Kramers-Kronig分析203

4.2.1角度修正204

4.2.2数据外推与归一化204

4.2.3介电函数的推导205

4.2.4表面损失的修正207

4.2.5对结果的校核207

4.3内壳层损失边中复散射的去除208

4.3.1 Fourier-log解卷积208

4.3.2 Fourier-ratio解卷积210

4.3.3收集光阑的影响213

4.4电离损失边的背底拟合214

4.4.1最小二乘法拟合215

4.4.2双窗口法216

4.4.3更复杂的方法217

4.4.4背底去除的误差218

4.5基于内壳层电离边的元素分析221

4.5.1积分方法221

4.5.2部分散射截面的计算224

4.5.3对入射束会聚性的修正224

4.5.4对参考谱的MLS拟合226

4.5.5能量差分和空间差值技术227

4.6能量损失谱的广延精细结构分析228

4.6.1数据分析的傅里叶变换方法228

4.6.2曲线拟合步骤236

第五章 能量损失谱的应用239

5.1样品厚度的测量240

5.1.1 log-ratio方法240

5.1.2绝对厚度的K-K加和定则测量245

5.1.3质量厚度的Bethe加和定则测量247

5.2低能损失谱249

5.2.1用低能损失精细结构鉴定物相249

5.2.2由等离子体能量测合金的组成253

5.2.3表面、界面和小粒子的表征256

5.3能量过滤像和衍射花样258

5.3.1零损失像258

5.3.2零损失衍射花样261

5.3.3低能损失像262

5.3.4 Z比例像262

5.3.5衬度调节与MPL成像263

5.3.6芯损失像和元素分布图265

5.4利用芯损失谱的元素分析268

5.4.1氢、氦的测量270

5.4.2锂、铍和硼的测量271

5.4.3碳、氮和氧的测量273

5.4.4氟和较重元素的测量275

5.5空间分辨率和探测极限276

5.5.1电子光学上的考虑277

5.5.2弹性散射造成的分辨率降低277

5.5.3非弹性散射的离域性278

5.5.4统计上的局限性283

5.6 EELS谱的结构信息286

5.6.1电离边的取向依赖性286

5.6.2芯损失衍射花样290

5.6.3 ELNES指纹和原子配位291

5.6.4从白线比例确定价态296

5.6.5化学位移的应用299

5.6.6广延精细结构的应用300

5.6.7电子-康普顿（ECOSS）测量304

5.7特定材料体系中的应用306

5.7.1碳基材料306

5.7.2聚合物与生物样品312

5.7.3辐照损伤与钻孔315

5.7.4高温超导体321

附录A相对论Bethe理论325

附录B计算机程序329

B.1矩阵解卷积329

B.2 Fourier-log解卷积333

B.3 Kramers-Kronig分析法与厚度测量338

B.4 Fourier-ratio解卷积342

B.5入射束会聚度的修正346

B.6类氢K壳层散射截面348

B.7修正后的类氢L壳层散射截面351

B.8参数化的K，L，M，N和O壳层散射截面355

B.9 Lenz截面和复散射角分布359

B.10振子强度与散射截面间的转换361

B.11平均能量与非弹性散射平均自由程间的转换363

附录C一些单质与化合物的等离子体振荡能量365

附录D内壳层能量和损失边的形状369

附录E电子波长和相对论因子基本常数375

参考文献379

索引431

译者后记443