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绪言1

第一部分 晶体光学基本原理3

第一章 光的基本概念3

1. 光的性质3

2. 光波4

3. 反射定律8

4. 折射定律9

5. 全反射13

第二章 双折射16

6. 自然光和偏光16

7. 均质介质和非均质介质16

8. 双折射18

1. 反射法22

9. 平面偏光获取的方法22

2. 吸收法24

3. 棱镜法25

10. 平面偏光的分解和迭加30

1. 在同一平面内振动的平面偏光的迭加30

2. 振动面互相垂直的平面偏光的迭加32

第三章 折射率面和光率体38

11. 折射率面38

1. 高级晶族的折射率面38

2. 中级晶族的折射率面38

3. 低级晶族的折射率面42

12. 光率体47

2. 中级晶族(一轴晶)的光率体48

1. 高级晶族的光率体48

3. 一轴晶光率体在晶体中的位置51

4. 低级晶族(二轴晶)的光率体52

5. 二轴晶光率体在晶体中的方位(光性方位)57

6. 光率体的色散60

第四章 光波面与光波法线面64

13. 定义64

14. 均质体的光波面与光波法线面65

15. 一轴晶的光波面与光波法线面65

16. 二轴晶的光波面与光波法线面70

17. 弗楞乃尔面和波法线蛋形体77

18. 惠更斯作图法解释双折射79

19. 内锥折射与外锥折射88

20. 偏光显微镜的构造91

第二部分 晶体光学研究方法91

第五章 偏光显微镜91

21. 偏光显微镜中象的形成105

22. 偏光显微镜的附件107

23. 偏光显微镜的校正111

24. 偏光显微镜的保养114

25. 偏光显微镜的光源117

26. 透明薄片的制法121

第六章 一个偏光镜下的观察125

27. 观察晶体的晶形125

28. 测定晶体的粒径128

29. 测定岩石薄片中矿物的数量130

30. 观察晶体的解理并测定解理角134

31. 突起和糙面的观察137

32. 贝克线及其产生的原因139

33. 颜色与多色性的观察145

34. 薄片厚度的测定150

35. 不透明矿物的观察152

第七章 正交偏光镜下的观察153

36. 正交偏光镜下光的干涉作用153

37. 平行偏光镜间光的干涉作用160

38. 干涉色163

39. 双折射率的测定167

40. 反常干涉色181

41. 在定向切面中测定光率体的轴名182

42. 测定晶体的延长符号185

43. 消光的种类和消光角的测量189

44. 双晶的观察195

45. 取敛偏光(锥光)的装备的特点198

第八章 聚敛偏光下的观察198

46. 各类介质在聚敛光下的性质200

47. 一轴晶各种切面干涉图的特征及其形成原因201

48. 一轴晶光性符号的测定211

49. 二轴晶的各种切面上干涉图的特征及其形成原因218

50. 二轴晶光性符号的测定232

51. 光轴角的测定238

52. 在二轴晶干涉图中观察光率体色散240

53. 聚敛光中测定光性方位244

54. 在平行光和聚敛光中观察偏光面的转动247

第九章 油浸法253

55. 浸没介质253

56. 侵没介质之温度系数的色散率263

57. 浸没介质折射率之检定265

58. 油浸薄片之制法269

59. 在油浸薄片中比较晶体与浸没介质的折射率之方式271

60. 均质体折射率之测定过程277

61. 非均质晶体折射率之测定过程280

62. 双变油浸法284

63. 没浸法用于岩石薄片286

第十章 利用偏光显微镜鉴定透明矿物之步骤288

第三部分 费氏旋转台使用法293

第十一章 费氏台的安装、校正兼投影293

64. 费氏台的发展简史293

65. 费氏台的应用范畴294

66. 费氏台的结构294

67. 实测角度的校正298

68. 费氏台的安装和校正300

69. 投影304

第十二章 在费氏台上测定晶体光性311

70. 解理、晶面和晶棱间夹角之测定311

71. 晶体光性之判别314

72. 一轴晶光性的测定318

73. 二轴晶光性的测定325

74. 费氏台锥光法337

75. 双晶的研究339

第十三章 利用费氏台对矿物的鉴定344

76. 费氏台上斜长石的鉴定法344

77. 费氏台上钾钠长石的鉴定法367

78. 单斜辉石和单斜角闪石的鉴定368

参考文献372