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目录1

序言1

第一章　X射线光谱的激发1

（一）特征X射线谱1

（二）荧光产额3

（三）X射线和电子束对物质的穿透7

1．X射线的吸收7

2．X射线的散射12

3．电子的韧致辐射15

5．电子的反向散射19

4．电子的散射19

6．电子束强度的衰减22

（四）一次特征谱的强度22

1．电子碰撞引起原子电离的有效横截面的计算23

2．近似分析中一次特征谱的强度计算24

3．蒙特一卡罗法计算一次特征谱线的强度28

（五）X射线连续谱的强度32

1．韧致辐射的激发截面32

2．重阳极的韧致辐射强度33

3．克拉梅斯公式对电子散射和辐射吸收效应的校正34

（六）X射线荧光光谱的强度37

1．强度公式的推导37

2．管窗滤过的一次辐射对X射线荧光光谱强度的影响40

3．激发X射线荧光光谱的X射线管阳极材料的选择42

第二章　X射线光谱的记录方法和X射线荧光光谱仪44

（一）X射线辐射的探测器44

1．正比计数器44

2．闪烁计数器47

3．半导体探测器48

（二）X射线光学系统的基本类型和X射线辐射50

的分光晶体50

1．平面晶体的X射线光学系统50

2．弯晶X射线光学系统51

3．分析晶体52

（三）荧光分析用的X射线管55

1．X射线管辐射的光谱成分58

2．X射线管电极接地的最佳方案60

（四）现代X射线荧光光谱仪的主要类型61

1．波长色散（晶体—衍射）光谱仪62

2．能量色散光谱仪64

第三章　基体效应69

（一）试样材料对一次和二次辐射的吸收69

（二）基体辐射激发的分析线强度70

（三）样品的不均匀性对X射线荧光光谱强度的73

影响73

1．X射线荧光激发过程的蒙特—卡罗法模拟74

2．不均匀样品中被激发的X射线荧光强度的分析式80

（四）被测元素在化学键影响下的分析线位移84

（五）样品的化学成分对X射线背景强度的影响85

第四章　X射线荧光光谱的分析方法88

（一）基本参数法89

1．基本参数法分析的一般方案89

2．非线性方程组的解法90

3．灼烧样品和熔剂时稀释和损耗的计算91

4．基本参数法分析时计算浓度的程序92

5．分析实例94

方案96

1．吸收校正计算公式的推导96

（二）大批分析多组分样品时基本参数法的简便96

2．校正吸收时，由于衰减系数的不定性而引起的浓度测定误差104

3．基体激发校正的简化表达式107

（三）分析相似组成样品的理论校正法112

（四）改变二次辐射选取角的理论校正法116

（五）半经验校正法120

1．二元标准法121

2．半经验系数校正法125

3．对分析线吸收校正的外标法127

（六）经验校正法130

1．比特季—勃里斯法131

2．标准同被测元素含量相同的分析法132

（七）等同的数学校正法133

3．根据任意成分标准的分析133

（八）固定校正值的分析136

1．直接外标法137

2．稀释法140

3．内标法147

第五章　分析样品的制备156

（一）岩石、矿物粉末的不均匀性156

（二）岩石和矿物熔融时的物理—化学过程158

（三）熔剂的选择161

（四）熔融矿物原料所用坩埚的要求162

（五）岩石样品变成玻璃体的最佳条件166

（六）熔融条件和原始混合物的状态168

（七）由岩石熔体浇铸的辐射体172

（八）玻璃状辐射体制备的自动化174

（九）由熔体制备粉末辐射体的方法175

（十）玻璃状辐射体的化学稳定性177

第六章　X射线光谱分析的计量特征179

（一）分析方法的重现性179

（二）多级方差分析182

（三）分析结果的准确度和精密度185

（四）分析方法的灵敏度和被测元素的检出限186

附录199

参考文献207