图书介绍

最新集成电路测试动技术【2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载】

高成，张栋，王香芬编著著
出版社：北京：国防工业出版社
ISBN：9787118060713
出版时间：2009
标注页数：290页
文件大小：70MB
文件页数：298页
主题词：集成电路－测试技术

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图书目录

第1章集成电路测试概述1

集成电路测试的定义1

集成电路测试的基本原理1

集成电路故障与测试1

集成电路测试的过程2

集成电路测试的分类6

集成电路测试的意义与作用7

半导体技术的发展对测试的影响9

第2章数字集成电路测试技术11

概述11

典型的数字集成电路测试顺序13

数字集成电路测试的特殊要求14

直流参数测试15

交流参数测试29

功能测试33

第3章半导体存储器测试技术47

存储器的组成及结构47

存储器的失效模式和失效机理48

存储器的故障模型及验证方法50

图形算法在存储器测试中的作用54

存储器的测试项目66

内建自测试在存储器测试中的应用68

存储器测试需要注意的问题70

第4章模拟集成电路测试技术71

概述71

模拟集成运算放大器测试技术72

模拟集成比较器测试技术86

影响运算放大器闭环参数测试精度的原因分析88

集成稳压器测试技术90

模拟开关集成电路测试技术101

第5章数模混合集成电路测试技术119

5．1概述119

ADC、DAC测试的必要性121

测试方法123

基于DSP的测试技术123

DAC测试技术126

ADC测试技术133

数模混合集成电路测试参数分析139

DAC和ADC测试相关误差分析143

第6章 DSP在混合电路测试中的应用145

DSP概述145

DSP测试基础147

基于DSP的测试优点160

基于DSP的功能测试161

基于DSP的动态参数测试163

混合信号电路对基于DSP的测试系统的要求168

第7章 SOC测试技术169

前言169

SOC芯片对测试的要求170

SOC中混合信号测试172

SOC混合信号测试的发展方向179

第8章 IDDQ测试181

引言181

IDDQ测试检测的故障182

IDDQ测试方法186

IDDQ测试的局限性191

ΔIDDQ测试191

IDDQ内建电流测试193

IDDQ可测试性设计194

小结194

第9章 DC-DC参数测试方法195

DC-DC模块的发展195

DC-DC电源模块直流参数测试原理196

交流参数测试原理208

DC-DC电源模块测试系统215

第10章集成电路测试系统220

集成电路测试系统概述220

现代混合集成电路测试系统的基本结构222

SOC测试系统232

第11章设计到测试的链接243

引言243

设计、测试技术面临的问题245

设计到测试的无缝链接247

芯片的验证测试251

设计到测试的自动转换256

第12章测试接口板DIB设计技术262

测试接口板基础262

PCB设计与制作264

DIB连线屏蔽保护266

传输线274

测试接口板接地点和电源布线设计技术279

DIB设计中元器件的选择282

DIB印制电路板的可靠性设计285

DIB印制电路板的效果验证288

参考文献289