图书介绍
电机工程手册 第7卷 电子元器件 41篇 电子元器件【2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载】
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- 机械工程手册,电机工程手册编辑委员会 著
- 出版社: 北京:机械工业出版社
- ISBN:
- 出版时间:1982
- 标注页数:487页
- 文件大小:28MB
- 文件页数:503页
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电机工程手册 第7卷 电子元器件 41篇 电子元器件PDF格式电子书版下载
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图书目录
序1
编辑说明1
第41篇电子元器件1
第1章电真空器件1
1 概述 41-1
2 电子管 41-1
2·1收讯放大管 41-1
目录1
1半导体集成电路的结构 42-3
第2章半导体集成电路的3
第1章概 述3
常用符号表3
第42篇集成电路3
1·1双极型集成电路 42-3
结构、设计和制造3
1·2 MOS集成电路 42-6
1·3集成电路的封装外壳 42-7
2集成电路的设计要点 42-7
2·1电路模拟设计要点 42-7
2·2工艺设计要点 42-7
2·2发射管 41-8
2·3版图设计要点 42-8
3集成电路的制造工艺 42-8
3·1前工序 42-9
3·2管芯制造工序 42-9
2·3整流管和特殊用途电子管 41-11
3 离子管 41-14
3·1气体放电的基本特性 41-15
3·3后工序 42-15
3·4技术管理 42-16
3·2稳压管 41-16
第3章双极型数字集成电路17
3·3充气整流管 41-17
1基本逻辑门电路 42-17
2二极管-晶体管逻辑(DTL)电路 42-18
3·4引燃管 41-18
3·5闸流管 41-19
3 晶体管-晶体管逻辑(TTL)电路 42-19
4 高阈值逻辑(HTL)电路 42-19
5 触发器 42-20
5·1单稳态触发器 42-20
5·2双稳态触发器 42-20
3·7十进位计数管 41-21
3·6放电管 41-21
6逻辑电路参数的测试 42-23
6·1直流参数的测试 42-23
3·8计数管 41-23
6·2交流参数的测试 42-24
4·1光电子发射 41-24
4 光电器件 41-24
第4章MOS场效应数字集成电路25
1 P-MOS电路及其应用 42-25
4·2光电管和光电倍增管 41-25
1·1 P-MOS晶体管的工作原理 4225
4·3象变换器 41-26
1·2 P-MOS基本电路 42-26
5 电子束管 41-27
5·1 电子束管的基本结构和工作原理 41-27
1·3 P-MOS电路的应用举例 42-29
5·2摄象管 41-29
2 CMOS电路及其应用 42-31
2·1 CMOS电路的特点 42-31
5·3储存管 41-31
2·2 CMOS基本电路 42-32
6微波电子管 41-32
6·1微波三、四极管 41-32
6·2速调管 41-34
1半导体存贮器 42-35
第5章大规模集成电路(LSI)35
2·3 CMOS电路的应用举例 42-35
6·3行波管 41-36
1·2只读存贮器(ROM) 42-36
1·1随机存取存贮器(RAM) 42-36
2·1双极型LSI逻辑电路 42-37
3微处理器 42-37
4 LSI电路在仪器仪表方面的应用 42-37
2·2 MOS型LSI逻辑电路 42-37
2逻辑电路 42-37
6·4磁控管 41-38
5设计制造LSI电路所需具备的条38
件 42-38
5·1基础材料 42-38
5·4计算机对工艺过程实现自动控制(CAP) 42-39
5·2空气净化 42-39
5·3计算机辅助设计(CAD) 42-39
5·5计算机辅助测试(CAP) 42-39
1·1差分输入电路 42-40
1集成运算放大器的基本单元电路 42-40
第6章线性集成电路40
7 电真空器件型号命名方法 41-41
1·2恒流源及偏置电路 42-41
1·3电平位移电路 42-42
1·4输出级电路 42-43
1·5有源负载 42-44
2集成运算放大器的主要参数 42-44
3各种集成运算放大器 42-45
3·1低增益运算放大器 42-45
3·2中增益运算放大器 42-45
1 概述 41-46
第2章半导体分立器件46
2 PN结基本原理 41-47
3·3高增益运算放大器 42-47
3·4高性能运算放大器 42-47
2·1 PN结的整流特性 41-48
3·5高精度运算放大器 42-48
3·6高输入阻抗运算放大器 42-49
3·7低漂移运算放大器 42-50
3·8低功耗运算放大器 42-51
2·2 PN结的电容 41-51
3·9高速运算放大器 42-51
4集成运算放大器主要参数的测试方53
法 42-53
2·3 PN结的击穿 41-53
5集成运算放大器的应用 42-54
5·1理想放大器 42-54
5·2直流比例放大器 42-54
3半导体二极管 41-54
5·3直流运算器 42-55
3·2检波二极管 41-55
3·1整流二极管 41-55
3·3开关二极管 41-56
3·4稳压二极管 41-57
3·5恒流二极管 41-58
3·6肖特基势垒二极管(SBD) 41-58
5·6线性检波器 42-58
5·5电压?电流变换器 42-58
5·4电桥放大器 42-58
5·8正弦波发生器 42-59
5·7有源滤波器 42-59
1·2电压调整器的基本单元电路 42-60
1·1集成电压调整器的工作原理 42-60
1 电压调整器 42-60
第7章非线性集成电路60
3·3寿命试验及其数据处理 41-61
3·7 PIN二极管 41-61
3·8变容二极管 41-62
1·3电压调整器的主要参数 42-63
3·9阶跃恢复二极管 41-63
1·4典型集成电压调整器电路 42-64
3·10隧道二极管(TD)和反向二极管 41-65
2·1电压比较器 42-67
2 比较器 42-67
3·11雪崩二极管 41-67
3·12体效应二极管 41-68
2·2电平检出器 42-68
4双极型晶体管 41-69
3磁芯读出放大器 42-69
4·1晶体管的基本工作原理 41-71
4模拟乘法器 42-71
3 工艺筛选 42-73
2浴盆曲线 42-73
1失效率 42-73
注意事项73
第8章集成电路的可靠性及使用73
3·1检查筛选 42-74
3·2检漏筛选 42-74
3·3高温直流参数测试和模拟低温参数测试的动态测试 42-74
3·5温度冲击 42-74
3·4高温存贮 42-74
4使用时要注意的事项 42-75
3·6高温功率老化 42-75
4·2低频小功率晶体管 41-76
命名 42-77
附录Ⅰ 集成电路的外形识别和型号77
参数 42-78
附录Ⅱ TTL数字集成电路有关典型78
附录Ⅲ常用的集成运算放大器参数79
表及电路图 42-79
4·3高频晶体管 41-80
4·4低噪声晶体管 41-82
型号对照 42-84
附录Ⅳ部分CMOS集成电路国内外84
照 42-85
附录Ⅴ 部分接口电路国内外型号对85
4·5开关晶体管 41-86
对照 42-86
附录Ⅵ部分运算放大器国内外型号86
参考文献 42-87
4·6功率晶体管 41-88
5·1结型场效应晶体管 41-94
5场效应晶体管 41-94
5·2 MOS场效应晶体管 41-102
6其他晶体管 41-107
6·1单结晶体管 41-107
6·2可编程序单结晶体管 41-110
7半导体器件的型号命名方法 41-112
第3章电阻器113
1 概述 41-113
2 电阻器的一般性能 41-114
3 固定电阻器 41-116
3·1合金型电阻器 41-116
3·2薄膜型电阻器 41-118
3·4固定电阻器的选用 41-119
3·3合成型电阻器 41-119
4 电位器 41-121
4·1电位器的主要技术参数 41-121
4·2合金型电位器 41-122
4·3合成型电位器 41-123
4·4薄膜型电位器 41-124
4·5非接触式电位器 41-124
4·6电位器的选用 41-125
5敏感电阻器 41-126
1·1电容器的分类 41-127
第4章电容器127
1·2电容器的标称容量、额定电压与温度系列 41-127
1 概述 41-127
2 电容器的主要技术参数 41-128
3·1有机介质电容器的一般特性 41-132
3 有机介质固定电容器 41-132
3·2纸介电容器 41-133
3·3金属化纸介电容器 41-133
3·4有机薄膜电容器 41-133
3·5复合介质电容器 41-134
4 无机介质固定电容器 41-135
4·1无机介质电容器的一般性能 41-135
4·2陶瓷电容器 41-135
4·3云母电容器 41-136
4·4玻璃膜和玻璃釉电容器 41-137
5 电解电容器 41-138
5·1电解电容器的一般特性 41-138
5·2铝电解电容器 41-138
5·3钽电解电容器 41-139
6·1充气电容器 41-140
7 可变电容器和微调电容器 41-140
6·2真空电容器 41-140
7·1空气可变电容器 41-140
41-140
6气体介质和液体介质固定电容器140
5·4铌电解电容器及其他电解电容器 41-140
7·2有机薄膜可变电容器 41-141
7·3微调电容器 41-141
8 电容器的应用 41-142
2 电感器的基本参数计算和考虑 41-145
1 概述 41-145
2·1电感量的计算 41-145
第5章电感器145
2·2互感量和耦合系数的计算 41-151
2·3品质因数(Q值)的计算 41-154
2·4固有电容的计算 41-154
2·5电感线圈稳定性的计算 41-155
3 电感器主要材料的选择 41-155
3·1导线的选择 41-155
3·2骨架材料和形状的选择 41-156
3·3磁心及其材料的选择和应用 41-159
4提高电感器稳定性的措施 41-161
4·1减少温度影响的措施 41-161
4·2减少潮湿影响的措施 41-161
4·3提高抗电强度的措施 41-161
4·4电感线圈的防振措施 41-161
5 电感线圈的屏蔽 41-162
5·3屏蔽罩的设计 41-163
6·1用Q表测量L,Q, C0和M(k)等163
6 电感器参数的测量 41-163
参数 41-163
5·2屏蔽材料的选择 41-163
5·1屏蔽的作用 41-163
6·2用电感测量仪和电桥测L,Q,M164
(k) 41-164
7·2平面电感器 41-165
7·1小型固定电感器 41-165
7·3中周线圈 41-165
7 几种电感线圈的介绍 41-165
6·3电感温度系数αL的测量 41-165
7·4罐形磁心线圈 41-180
7·5变感器(可变电感器) 41-180
8偏转线圈和聚焦线圈 41-182
8·1摄象管的偏转聚焦线圈 41-182
8·2显象管的偏转线圈 41-184
8·3制造偏转线圈的材料和工艺 41-186
1概述 41-189
1·1接插元件的功能、特点和发展趋势 41-189
1·2接插元件的使用环境 41-189
2基本参数及其原理 41-189
2·1接触电阻 41-189
第6章接插元件189
2·2接触对的电流容量 41-191
2·3绝缘电阻 41-192
2·4击穿电压 41-193
2·5串音衰耗 41-194
2·6特性阻抗与驻波比 41-196
2·8镀层磨损寿命 41-197
2·7接触压力、插拔力、换向力 41-197
3·1接触对结构 41-198
3接触对 41-198
3·2镀层材料 41-199
3·3接触面润滑剂的应用 41-199
3·4接触对所用弹性材料 41-199
4绝缘基座 41-202
4·1基座结构 41-202
4·2材料 41-202
5接触对与外接导线的连接 41-202
5·1锡钎焊 41-202
5·2绕线连接 41-203
5·3压接 41-204
6连接器 41-204
6·1连接器的分类 41-204
6·2圆形连接器 41-205
6·3矩形连接器 41-207
6·4印制板连接器 41-208
6·5同轴连接器 41-209
6·6带状电缆连接器 41-217
6·7光纤(缆)连接器 41-217
7开关及其他接插件 41-217
8提高接插件的可靠性 41-217
第7章记忆元器件219
1概述 41-219
2磁性存储元器件 41-220
2·1环形记忆磁心 41-220
2·2其他铁氧体存储元件 41-224
2·3磁膜存储器件 41-227
3半导体随机存取存储器件 41-229
3·1概述 41-229
3·2双极型随机存取存储器 41-231
3·3 MOS随机存取存储器件 41-232
3·4半导体存储器的测试方法 41-236
4只读存储器 41-238
4·1半导体只读存储器 41-238
4·2其他类型的只读存储元器件 41-240
5新型存储元器件 41-241
5·1电荷耦合器件 41-241
5·2磁泡存储器 41-243
5·3电子束存储器 41-245
5·4非晶态半导体存储器 41-247
5·5光存储介质 41-248
第8章压电器件251
1压电效应和压电材料 41-251
1·1压电效应 41-251
1·2压电方程 41-251
1·3压电体的各种参数 41-252
1·4压电材料 41-259
41-260
2·1压电振子的等效电路 41-260
2 压电振子的等效电路与测量方法260
2·2主要参数的测量方法 41-261
3压电陶瓷器件 41-262
3·1 压电陶瓷滤波器 41262
3·2压电陶瓷变压器 41-264
3·3压电陶瓷电声器件 41-266
3·4压电陶瓷的其他应用 41-267
4 压电晶体器件 41-270
4·1石英晶体谐振器 41-270
4·2晶体振荡器 41-272
4·3晶体滤波器 41-275
5压电声表面波器件 41-276
5·1概述 41-276
5·2声表面波滤波器 41-277
5·3声表面波延迟线 41-278
5·4声表面波放大器及其他非线性器278
件 41-278
第9章显示器件279
1概述 41-279
1·1显示器件的分类 41-279
1·2显示器件发展概况 41-280
1·3各类显示器件性能比较 41-282
2 电子束显示器件 41-282
2·1示波管 41-282
2·2定位管 41-284
2·3显象管 41-285
2·4彩色显象管 41-287
2·5投影管 41-288
2·6显示储存管 41-289
2·7字符管和字标管 41-289
2·8记录管 41-290
2·9其它电子束管 41-290
3·1荧光数码管的结构和工作原理 41-291
3·2荧光数码管的特性 41-291
3 荧光数码管 41-291
3·3荧光数码管的特点及典型产品参数 41-293
3·4荧光数码管的驱动方法 41-293
4半导体发光二极管 41-294
4·1发光二极管的结构与发光机理 41-294
4·2发光二极管用的材料 41-295
4·3发光二极管的特性 41-295
4·4发光二极管显示器的特点与应用 41-296
4·5发光二极管显示器的使用方法 41-296
5·2辉光数码管的特性参数及其驱动297
5·1辉光数码管的结构和工作原理 41-297
方法 41-297
5辉光数码管 41-297
6等离子体显示器件 41-298
6·1交流等离子体显示器件 41-298
6·2直流等离子体显示器件 41-299
6·3片段式数字显示器件 41-300
6·4超大型交流等离子体显示器件 41-301
7 电致发光显示器件 41-301
7·1交流粉末电致发光器件 41-302
7·2直流粉末电致发光器件 41-303
7·3薄膜电致发光器件 41-303
8液晶显示器 41-304
8·1液晶显示器的结构与工作原理 41-304
8·2液晶显示器的工作特性 41-306
8·3彩色液晶显示器件 41-307
8·4液晶显示器的特点 41-307
8·5液晶显示器的驱动方法 41-307
9激光显示 41-308
9·1激光显示器的特点 41-308
9·2激光显示器的工作原理和结构 41-308
9·3彩色激光显示 41-310
10 光阀显示 41-310
10·1电子束光阀显示 41-311
10·2激光扫描的液晶光阀显示 41-312
11立体显示 41-313
11·1视差立体显示 41-313
10·3光电导液晶光阀显示 41-313
11·2立体X射线电视 41-314
11·3合成全息照相投影式立体彩色显示 41-314
11·4振动平镜式三维显示 41-315
2红外探测器 41-316
1 概述 41-316
2·1红外探测器的特性参数 41-316
第10章红外器件316
2·2光子探测器 41-318
2·3热探测器 41-320
2·4红外探测器的应用 41-322
3红外摄象器件 41-324
3·1红外摄象管 41-324
3·2电荷耦合摄象器件(CCI) 41-325
2光敏元件 41-327
1概述 41-327
2·1光敏电阻 41-327
第11章半导体传感元件327
2·2光电二极管 41-331
2·3光电晶体管 41-333
2·4光电耦合器件 41-334
3压敏元件 41-337
3·1半导体应变片 41-338
3·2扩散型半导体应变片及固体压力传感器 41-341
3·3蒸镀薄膜型应变片 41-341
3·4 PN结压敏元件 41-342
3·5声电传感元件 41-344
4磁敏元件 41-346
4·1霍尔元件 41-346
4·2磁敏电阻器 41-351
4·3磁敏二极管(SMD) 41-353
5湿敏元件 41-354
5·1湿敏电阻 41-355
5·3湿敏阻容元件 41-359
6气敏元件 41-359
5·2湿敏电容 41-359
6·1常用的气敏半导体材料和气敏元件 41-360
6·2气敏元件的结构和工作原理 41-360
6·3气敏元件的特性和参数 41-362
6·4气敏元件的应用 41-363
7热敏元件 41-363
第12章继电器365
1 概述 41-365
1·1继电器的定义、特性与参数 41-365
1·2继电器的分类 41-365
1·3对继电器的一般要求 41-368
2 电磁式继电器 41-368
2·1电磁式继电器的结构与特性 41-369
2·2电磁式继电器的触点 41-381
2·3电磁式继电器的线圈 41-393
2·4电磁式继电器的典型结构 41-396
3舌簧继电器 41-398
3·1舌簧继电器的结构、工作原理与特点 41-398
3·2各类舌簧触点与继电器简介 41-401
4极化继电器 41-402
5磁保持继电器 41-405
6 密封继电器 41-406
7高频继电器 41-407
8高压继电器 41-408
9 双金属温度继电器 41-408
10 晶体继电器 41-409
11 时间继电器 41-411
11·1机械延时式时间继电器 41-411
11·2电磁式时间继电器 41-411
11·3电热式时间继电器 41-412
11·4阻尼式时间继电器 41-412
11·5电子式时间继电器 41-412
11·6阻容式晶体管时间继电器 41-412
11·7计数式晶体管时间继电器 41-415
12典型继电器单元线路 41-416
1变压器 41-420
1·1变压器的原理和结构 41-420
第13章变压器与滤波扼流圈420
1·2电源变压器 41-424
1·3音频变压器 41-432
1·4脉冲变压器 41-434
2滤波扼流圈 41-437
2·1用途和特点 41-437
2·2计算滤波扼流圈的几个基本概438
念 41-438
2·3设计方法 41-439
1·1静电测量管应用线路 41-441
1·2真空计管的实用线路 41-441
1 电真空器件的应用举例 41-441
第14章 电子元器件应用线路举例441
1·3光电倍增管 41-443
2特殊半导体二极管的应用 41-443
2·1肖特基二极管的应用 41-443
2·2变容二极管的应用 41-445
2·3 PIN二极管的应用 41-445
2·4光敏二极管的应用 41-446
2·5磁敏二极管的应用——无触点开关 41-447
2·6雪崩二极管的应用——雪崩二极管振荡器 41-448
3磁记录读出放大器 41-450
2·1磁鼓、磁带读写放大器例 41-450
2·2磁盘读放大器例 41-450
4压电器件的应用电路 41-452
5·1红外元件的耦合线路——热源探454
测仪前置放大级例 41-454
5红外元件的应用 41-454
第15章 电子元器件的可靠性455
1概述 41-455
5·2红外元件的耦合线路——热源探455
测仪前置放大级例二 41-455
2可靠性的基本概念 41-456
2·1可靠性的数量特征 41-456
2·2常见的寿命分布 41-460
2·3电子元器件的典型失效率曲线 41-460
3 电子元器件的可靠性试验 41-460
3·1可靠性试验的目的与分类 41-460
3·2环境试验 41-461
3·4加速寿命试验及其数据处理 41-465
3·5可靠性筛选试验 41-468
3·6失效率鉴定试验 41-470
3·7抽样简介 41-473
4·2研制阶段的可靠性控制 41-478
4提高电子元器件的可靠性 41-478
4·1一般程序 41-478
4·3生产阶段的可靠性控制 41-478
4·4使用阶段的可靠性控制 41-479
4·5失效分析 41-480
5 电子元器件与系统的可靠性预480
计 41-480
5·1元器件使用失效率预计 41-480
5·2系统可靠性预计 41-481
6可靠性数据的收集与利用 41-484
6·1元器件可靠性数据的收集 41-486
6·2元器件可靠性数据的利用 41-486
参考文献 41-486
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